ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОГО МЕТОДА ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЗА СТАРЕНИЕМ ПОЛИМЕРНЫХ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРАЛОВ В ПРОЦЕССЕ ЭКСПОЗИЦИИ В КОСМОСЕ

© П.Г.Бабаевский, Н.А.Козлов, И.В.Чурило, В.В.Слагода
© Государственный музей истории космонавтики им. К.Э. Циолковского, г. Калуга
Секция "К.Э. Циолковский и проблемы космического производства"
1998 г.

В работе изложены результаты обработки новой информации об изменении диэлектрических свойств модельных полимеров и полимерных композиционных материалов (ПМ и ПКМ) в процессе 8-летней экспозиции в космических условиях, полученной с помощью аппаратуры "ЭРЭ" на борту станции "МИР". Как показали результаты ранее проведенных исследований, используемая методика мониторинга – непрерывного контроля за состоянием материалов непосредственно в процессе экспозиции в космосе позволяет судить о характере и кинетике изменений структуры и свойств ПМ и ПКМ, широко применяемых в производстве солнечных батарей, экранно-вакуумной теплоизоляции, герметизирующих элементов, клеевых соединений и др.

Анализ полученных результатов показывает, что наблюдаемое дальнейшее снижение диэлектрических показателей за исследованный период времени (8 лет) можно связать с накоплением микродефектов в материалах и на границах раздела с измерительными электродами, а также удалением из них низкомолекулярных полярных компонентов в вакууме. Установлено, что снижение этих показателей для модельных эпоксидных полимеров уменьшается с повышением густоты сетки и жесткости цепей, а изменение свойств ПКМ на основе этих полимеров в решающей степени определяется типом матрицы и в меньшей – природой армирующих волокон, хотя ПКМ на основе углеродных волокон обладают большей стойкостью в условиях "космического климата", а на основе органических волокон (СВМ) – меньшей. Анализ полученных температурных зависимостей измеряемых параметров диэлектрических свойств ПМ и ПКМ при заданной длительности экспозиции, выявляющих основной и дополнительный релаксационные процессы в эпоксидных полимерах, подтверждает решающую роль дефектообразования в снижении их диэлектрических свойств.